X-ray diffraction using focused-ion-beam-prepared single crystals uri icon Wissenschaftlicher Artikel

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AutorInnen

  • Weigel, Tina
  • Funke, Claudia
  • Zschornak, Matthias
  • Behm, Thomas
  • Stöcker, Hartmut
  • Leisegang, Tilmann
  • Meyer, Dirk-Carl

Veröffentlichungszeitpunkt

  • 2020

Open-Access-Kennzeichnung

  • Open Access

Peer Reviewed

  • Ja

Sprachen

  • englisch

Im Bibliotheksbestand

  • Ja Im Bibliotheksbestand

Lizenz

  • CC BY V4.0 | Permits almost any use subject to providing credit and license notice. Frequently used for media assets and educational materials. The most common license for Open Access scientific publications. Not recommended for software. | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Forschung

Schlagwörter

  • Research Papers

Identität

International Standard Serial Number (ISSN )

  • 00218898

PubMed ID

  • 32684876

Alma MMS-ID

  • 99575818002581

weitere Informationen zum Dokument

Band

  • 53

Heftnummer

  • Part 3

Anderes

Kuratierungs-Zielkategorie (intern)

  • Ja