An automated Test-Set-up for the dynamic Characterization of IBGT Modules under different thermal and electrical Conditions uri icon

Überblick

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Autor/in (verknüpft)

  • Göhler, Lutz  Professor für Leistungselektronik/Regenerative Energien

Open-Access-Kennzeichnung

  • Closed Access

Peer Reviewed

  • Nein

Sprachen

  • deutsch

Anderes

Kuratierungs-Zielkategorie (intern)

  • Ja